硅漂移探测器漂移电压数据
关键词
硅漂移探测器 漂移电压 工作特性
来源机构
中国科学院微电子研究所
摘要

本科技资源为硅漂移探测器的漂移电压数据,来源于本课题组2025年研制的硅漂移探测器。探测器在半导体测试仪上经过严格的电学测试,工作电压可在–150V时正常工作。在加工方法上,它运用了先进的半导体平面工艺,包括通过光刻技术定义精确的环形漂移电极,通过异质结进行选择性掺杂以形成内部电场,适用于高能物理实验、X射线探测等领域的数据分析。

学科分类
核科学技术

正在加载数据内容...

Run号 数据路径 生成时间 文件数 操作
T1957 CSTR:17081.11.dayabay.ecc.Run:T1957 2024-10-20 12 查看
12400 CSTR:17081.11.dayabay.ecc.Run:12400 2024-10-20 356 查看
12422 CSTR:17081.11.dayabay.ecc.Run:12422 2024-10-20 25 查看
12423 CSTR:17081.11.dayabay.ecc.Run:12423 2023-10-20 42 查看
已选 0 项
文件信息 操作
硅漂移探测器漂移电压数据.zip
文件类型:zip 文件大小:342.92 KB 创建时间:2025-12-12 15:15 下载量:0
下载
硅漂移探测器漂移电压数据说明.docx
文件类型:docx 文件大小:28.87 KB 创建时间:2025-12-12 15:15 下载量:0
下载

icon 咨询评价

问题咨询? 登录后提出问题